在材料科学领域，微观结构的精准观测与加工是科研突破的关键。近期，泛锐云智科技（郑州）有限公司（以下简称“E测试”）实验室引入国仪量子超高分辨场发射扫描电镜SEM5000X与聚焦离子束电子束双束显微镜DB500，成为其微纳分析技术升级的新利器。

科研服务的“中国速度”

E测试于2013年诞生于古都西安，总部位于郑州，秉承“客户至上，求实诚信，合作共赢，自驱高效，拥抱变化”的经营理念，坚持“让科研更简单、更高效”的使命，为材料测试领域提供优质的“互联网+”式综合科研技术服务。“E测试专注材料、化学、生物、环境领域检测服务11年，累计服务超5000家高校院所，年检样品量突破128万件！”实验室主任马博士表示，平台以“极速交付”著称，平均4.3天即可完成检测报告，用精准与时效助力每一份科研成果诞生。

“过去高端仪器依赖进口，采购周期长、维护成本高。如今国产设备已实现性能比肩国际品牌。”马博士以SEM5000X为例介绍道，“它拥有超高分辨率，更大的快速换样舱，解决了我们客户大尺寸样品的需求。同时，国仪的本土化服务保障及时，让我们客户很放心。”

技术实战：破解导电性差、大景深样品成像难题

水凝胶通常由绝缘的高分子聚合物（如聚丙烯酰胺、聚乙烯醇）构成，这些材料本身不导电。对于该类导电性差样品，作为E测试实验室核心测试人员，牛老师介绍道：“首先干燥样品，使用导电浆体固定，并进行喷金处理，以提高材料导电性，减少电荷积累。国仪量子SEM5000X具有较好的低电压成像效果，选择较小光阑，降低电子束流，缩短工作距离，提高信号收集效率，改善图像质量。选择ETD探测器，通过上述方法可得到较好的图像效果。”

通过“制样-参数-设备”全链路创新，结合国仪量子SEM5000X的低电压成像优势，E测试成功攻克了导电性差导致的检测瓶颈，为实验室提升了可靠的微纳尺度分析的硬实力。

对于大景深样品如何实现全视野清晰成像这一难题，牛老师同样拥有一套独家秘笈：“通过倾斜样品角度，优化加速电压，增大工作距离，调整光阑尺寸，可以有效提升图像清晰度。”

FIB-SEM双剑合璧：从微纳加工到全维度分析

FIB技术主要用于对样品表面进行纳米级精度的切割、刻蚀和沉积，满足用户在微纳尺度加工上的需求。同时，它也可以为用户提供成分分析（通过EDS获取元素组成）和形貌与结构分析（通过SEM成像展示表面形貌与微观结构），为深入理解样品的物理与化学性质提供关键支持。

北京省区经理吴老师结合公司业务介绍道：“E测试目前针对不同成分类，例如超软材料、普通硬度材料、超硬材料；不同结构类，例如单相结构类、多相结构类、层状结构类、多孔结构类、镶嵌样等各类材料，都有丰富的制样经验。”

从“依赖进口”向“自主创新”的跨越

谈及为何会选择国仪量子的DB500，北京省区经理吴老师提到：“我们此次购买的国仪量子DB500，使用体验非常出色，完全超出了我们的预期。它不仅满足了我们日常客户需求，同时解决了高端双束设备‘卡脖子’难题。我认为DB500是国产高端科学仪器实现进口替代的标杆之作。”

从进口依赖到国产崛起，E测试实验室与国仪量子的合作，展现了国产高端仪器在科研服务领域的硬实力。随着SEM5000X与DB500为代表的国产高端科学仪器研发应用成功，更多“卡脖子”技术难题或将迎刃而解，中国智造的“微观视野”正愈发清晰。

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